觸控式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是線材，光電、LED、金屬、照明、塑料、橡膠、通訊、電子等產(chǎn)品或材料行業(yè)*的溫沖設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*熱溫及極低冷溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制，采用流行的制冷控制模式，可以自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。

觸控式冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

1、高溫蓄熱箱： RT+10℃～180℃或200℃

2、低溫蓄冷箱：-55～10℃、-65～10℃、-75～10℃  

3、溫度波動(dòng)度：高溫室與低溫室均≤±2℃;樣品區(qū)溫度波動(dòng)≤±0.5℃（恒溫時(shí)）；

4、樣品區(qū)承重：25㎏   30㎏  50㎏可選擇

5、標(biāo)準(zhǔn)配置多層加熱附照明玻璃視窗1套、試品架2個(gè)、測(cè)試引線孔（25、50mm）1個(gè)；

6、預(yù)冷下限溫度：≤-75℃

7、工作室沖擊溫度：-40～150℃、-55～150℃、-65～150℃(可選擇其中一段)

8、溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間：溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間從低溫區(qū)到高溫區(qū)或從高溫區(qū)到低溫區(qū)  ≤15秒；

9、溫度回復(fù)時(shí)間≤5min(與溫度恢復(fù)條件有關(guān)，既冷卻水溫、暴露溫差、恒溫時(shí)間、樣品重量有關(guān)）

10、電源要求：AC380（±10%）V/50HZ  三相五線制.

滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；

GB/T 2423.22-2002溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

GJB 150.5A-2009 

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估