高低溫沖擊試驗箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)不可少的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

冷熱沖擊實(shí)驗箱滿足以下標(biāo)準(zhǔn):

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導(dǎo)則

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；

GB/T 2423.22-2002溫度變化

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則

GJB150.3A-2009 實(shí)驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗

GJB 150.4A-2009 實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗

GJB 150.5A-2009 實(shí)驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗

GJB367.2-1987通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法

GJB360.7-87溫度沖擊試驗；

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估

QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式；

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式;